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X射线部件的操作
? 控制整个测量过程
? 先进的基本参数法可进行无标准片测量
? 用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量
? 可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度
? 按照元素波峰进行自动元素识别
? 测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
? 客户自定义报表工具
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