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x荧光膜厚测试仪
1.电动的X/Y 桌可以在测量门打开时变速移动X/Y 桌出来给操作员放置样品及关闭测量门时移动X/Y 桌变速返回到测量位置。
2.高解像彩色摄影机配合强大的放大倍数功能使样品的对位十分容易及在测量中也可以监视测量的位置。如型号配备了可编测量位置的仪器更有雷射对位装置来更快速及準确对準样品的位置测量。
3.开槽式的测量室设计，这可使大块及平坦的样品，比测量室还大的，例如：电路板，也可以测量。
4.在整体操作上，在简易操作及强大功能的电脑WinFTM?软件下，所有的测量数据的统计可以十分清楚地表达出来。
5.符合美国的出口规定，软件是仪器的基本操作.此软件可以同时间测量最多至四层镀层、或是进行多至5元素的合金分析、又或是最多测量两个正离子的药水浓度测量分析。
6.在不使用标準片做校正的情况下，可以达至一个相当不错的测量结果。
7.测量的準确度是可以用标準片校正来提高，程式是可以接受多至64个标準片来做校正，标準片校正也可以保证测量可以有追溯性。
x荧光膜厚测试仪2014-2017年中国测厚仪行业现状研究分析及市场前景预测报告，是目前测厚仪领域最专业和最全面系统的深度市场研究报告。首先介绍了测厚仪的背景知识，包括测厚仪的相关概念、分类、应用、产业链结构、产业概述，国际市场动态分析，国内市场动态分析，宏观经济环境分析及经济形势对测厚仪行业的影响，测厚仪行业国家政策及规划分析，膜厚仪产品技术参数，生产工艺技术，产品成本结构等；
膜厚测试仪X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。
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