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X-RAY膜厚测试仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
X-RAY膜厚测试仪
X-RAY膜厚测试仪
2014-2017年中国测厚仪行业现状研究分析及市场前景预测报告，是目前测厚仪领域最专业和最全面系统的深度市场研究报告。首先介绍了测厚仪的背景知识，包括测厚仪的相关概念、分类、应用、产业链结构、产业概述，国际市场动态分析，国内市场动态分析，宏观经济环境分析及经济形势对测厚仪行业的影响，测厚仪行业国家政策及规划分析，膜厚仪产品技术参数，生产工艺技术，产品成本结构等；
膜厚测试仪X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。
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